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专题论述

影响透射电镜(TEM)的三大要素
信息来源:分析测试百科 上传日期:2018-01-08 点击率:232次

透射电镜基本构造与光学显微镜相似,主要由光源、物镜和投影镜三部分组成,只不过用电子束代替光束,用磁透镜代替玻璃透镜。光源由电子枪和一或两个聚光镜组成,其作用是得到具有确定能量的高亮度的聚焦电子束。

透镜的成像作用可以分为两个过程:第一个过程是平行电子束遭到物的散射作用而分裂成为各级衍射谱,即由物变换到衍射的过程;第二个过程是各级衍射谱经过干涉重新在像平面上会聚成诸像点,即由衍射重新变换到物(像是放大了的物)的过程。晶体对于电子束就是一个三维光栅。

 

 

透射电镜(图片来源于网络)

 

影响TEM的三要素:分辨率,放大倍数,衬度

1、分辨率

大孔径角的磁透镜,100KV时,分辨率可达0.005nm。实际TEM只能达到0.10.2nm,这是由于透镜的固有像差造成的。提高加速电压可以提高分辨率。已有300KV以上的商品高压(或超高压)电镜,高压不仅提高了分辨率,而且允许样品有较大的厚度,推迟了样品受电子束损伤的时间,因而对高分子的研究很有用。但高加速电压意味着大的物镜,500KV时物镜直径4550cm。对高分子材料的研究所适合的加速电压,最好在250KV左右。

2、放大倍数

电镜最大的放大倍数等于肉眼分辨率(约0.2mm)除以电镜的分辨率0.2nm,因而在106数量级以上。

3、衬度

a.样品越厚,图像越暗;

b.原于序数越大,图像越暗;

c.密度越大,图像越暗;

其中,密度的影响最重要,因为高分子的组成中原于序数差别不大,所以样品排列紧密程度的差别是其反差的主要来源。

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