近日，继 2025年9月启动飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）国产化产线后，雪迪龙再传捷报！雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪成功中标某高校质谱采购项目，用于肽及蛋白质水解复杂产物表面成分分析。此次中标不仅是市场对雪迪龙硬核技术实力的高度认可，更标志着公司在高端科学仪器布局、核心技术自主可控的征程上迈出坚实一步，对保障关键领域供应链安全、推动国产仪器自主创新具有重要意义。

TOF-SIMS作为半导体、生命科学等关键领域的核心材料表面分析工具，因技术复杂度高、研发周期长、投入强度大，长期被少数跨国企业垄断，是高精尖科学仪器核心产品之一，公司后期会持续进行技术创新，产学研协同，推动设备性能升级与技术自主可控，全面对标国际先进水平，为国产仪器突破注入强劲动力。

什么是飞行时间二次离子质谱

飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是将飞行时间检测技术与二次离子质谱技术相结合的新型高端表面分析技术。该技术兼具高分辨率、高灵敏度、精确质量测定等核心优势，已成为高端技术领域的关键分析手段，凭借质谱分析、二维成像、深度剖析三大核心功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等多个前沿领域。

其核心工作原理如下：离子源发射的离子束作为一次离子源，经一次离子光学系统聚焦与传输后，精准轰击样品表面；样品表面受溅射后产生二次离子，系统对二次离子进行提取与聚焦，随后送入离子飞行系统；在飞行系统中，不同质荷比（m/z）的二次离子因飞行速度差异实现分离，通过对分离后的离子进行检测，即可完成样品相关特性分析。

TOF-SIMS通过整合二次离子质谱的成分分析能力与飞行时间器的分离优势，显著提升了样品元素成分及分布检测的准确性。该技术兼具高横向/纵向分辨率与高质谱灵敏度，可实现元素、同位素、分子等多维度信息的精准分析。这一独特优势使其成为表面分析领域的主流技术，能够提供能量色散X射线光谱（EDX）、俄歇电子能谱（AES）、X射线光电子能谱（XPS）等传统技术无法覆盖的专属元素信息，为前沿科研与工业检测提供核心技术支撑。