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沈阳仪表院主持制定的《光学和光子学 光学薄膜》系列
标准荣获2026年度机械工业科学技术奖

发布时间:2026-11-3     来源:沈阳仪表院    编辑:衡盛楠    审核:陶炜煜 齐子杨

近日,2026年度机械工业科学技术奖获奖名单正式公布,由沈阳仪表科学研究院有限公司(以下简称“沈阳仪表院”)主持制定的《光学和光子学 光学薄膜》(GB/T 26332)系列标准荣获2026年度机械工业科学技术奖三等奖。

该系列国家标准修改采用国际标准ISO 9211,是光学领域国际标准转化与标准体系创新的重要成果。标准规定了光学薄膜的术语和定义、光学特性、环境适应性及核心试验方法,目前已广泛应用于精密光学、光电仪器、工业检测、车载光学等领域,补齐了国内相关领域的标准短板,为产品研制、制造和检测确立了统一技术规范,为推动光学薄膜产业链自主可控和技术创新提供了坚实的标准支撑。

国家标准《光学和光子学 光学薄膜》系列,核心标准包括8部分:

1.   GB/T 26332.1-2024第1部分:术语

2.   GB/T 26332.2-2026第2部分:光学特性

3.   GB/T 26332.3-2026第3部分:环境适应性

4.   GB/T 26332.4-2026第4部分:试验方法

5.   GB/T 26332.5-2022第5部分:减反射膜基本要求

6.   GB/T 26332.6-2022第6部分:反射膜基本要求

7.   GB/T 26332.7-2022第7部分:中性分束膜基本要求

8.   GB/T 26332.8-2022第8部分:激光光学薄膜基本要求

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